半導(dǎo)體集成電路行業(yè)電鍍鍍金層測厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測試或自動(dòng)逐個(gè)檢測大量的小部件。鍍層金屬膜厚儀XD系列

毛細(xì)管聚焦X熒光鍍層測厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測試或自動(dòng)逐個(gè)檢測大量的小部件。鍍層金屬膜厚儀XD系列

印制電路板電鍍鍍層檢測儀器 高性價(jià)比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測試或自動(dòng)逐個(gè)檢測大量的小部件。鍍層金屬膜厚儀XD系列

XD-1000高性價(jià)比型膜厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測試或自動(dòng)逐個(gè)檢測大量的小部件。鍍層金屬膜厚儀XD系列

XD-1000高性價(jià)比型膜厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測試或自動(dòng)逐個(gè)檢測大量的小部件。 超薄涂鍍層厚度儀

XU-100高性價(jià)比型X射線熒光鍍層測厚儀 全新下照式設(shè)計(jì)、性價(jià)比高、適用性強(qiáng)，輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測，且能自動(dòng)判定測試結(jié)果。