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秉承X熒光光譜儀20多年研發(fā)經驗，天瑞元素錄井分析儀EDX5500H再次推動了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發(fā)展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項技術的獨到之處在于：天瑞X射線熒光光譜儀通過巖屑化學元素組合特征的分析來識別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
天瑞X射線熒光光譜儀SEE系列土壤重金屬分析儀是天瑞儀器結合20年X熒光研發(fā)經驗，集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術，研制出具有自主知識產權的，全新一代檢測土壤重金屬的XRF產品。通過系列不同產品，可以滿足各類客戶需求，還能用于車載式檢測。應用于土壤污染物進行原位測試與修復分析中，應用于各類地質中，檢測樣品包括礦渣、巖石、泥土、泥漿，特別關注在國家標準中所關注的15大重金屬元素
天瑞X射線熒光光譜儀探險者EXPLORER手持式X熒光分析儀(手持式光譜儀)是天瑞儀器結合10年手持XRF技術研發(fā)經驗，集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術，研制出具有自主知識產權的全新一代手持XRF產品。EXPLORER 3000F手持式XRF 有害元素分析儀是天瑞儀器針對RoHS行業(yè)特別研發(fā)設計的手持檢測分析儀。
天瑞X射線熒光光譜儀EDX 3200S-PLUS (食品重金屬快速檢測儀)屬于江蘇天瑞儀器股份有限公司自主研發(fā)的產品，設備采用了能量色散X射線熒光光譜（EDXRF)技術實現(xiàn)食品中微量重金屬有害元素的快速檢測，設備采用了*探測器和激發(fā)源等硬件配置。
本產品符合國標GB/T 18043-2013對儀器分辨率的要求，天瑞能量色散X射線熒光光譜儀EDX 3000采用Si-Pin半導體探測器，遠勝于正比計數(shù)探測器； 準確無誤地分析黃金， 鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量。
天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600繼承了天瑞儀器EDX系列的準確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測試結果符合國標GB-1887《首飾貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》的要求。
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