記錄系統由放大器，脈沖高度分析器和記錄、顯示裝置組成。其中脈沖高度分析器是關鍵性部件。由檢測器將光信號轉換成電脈沖信號輸送到前置放大器，經前置放大器預放大后再送至主放大器，經放大后送入脈沖高度分析器，再顯示記錄或送入計算機。主放大器輸出的脈沖信號包括待測元素脈沖信號、噪聲及高次線脈沖信號。每一個電脈沖的幅度正比于X射線光子能量，但是實際上由每個入射光子所引起的離子對數并不是一個定值，而是在平均值上下波動，因而電脈沖的幅度分布也隨之變動。由于晶體衍射分光，同一元素不同級次的熒光...

X射線檢測器又稱探測器，是種能量轉換器，能對光子進行計數。在與光電子作用時，它可以儲存每次入射光子的全部能量。光子流越弱，檢測器工作的精度越高。目前常用的Ⅹ射線檢測器有氣體能量轉化器、半導體能量轉換器和閃爍計數器。一、氣體能量轉化器氣體能量轉化器也稱充氣型正比計數器（gasproportioncounter，PC），分為氣流型和封閉型兩種，氣流型適用于輕元素的檢測，而封閉型常用于高原子序數的元素，探測波長較長。以波長色散譜儀為例，氣流型和封閉型充Xe氣的正比計數管常常串聯使用...

分光系統是波長色散型X射線熒光光譜儀的重要部件，它由分光晶體及傳動機構、限高光欄、準直鏡和衰減器等器件組成。其中主要的器件是晶體分光器，它的作用是通過晶體衍射把不同波長的X射線分開。一、分光晶體分光晶體是晶體分光系統的核心部件，為了獲得較好的分析效果，晶體的選擇是十分重要的。分光晶體相當于光學光譜儀中棱鏡和光柵，X射線區域之所以不能使用棱鏡或光柵作為的分光單元，是因為X射線的波長短、能量大、穿透力強、幾乎不發生折射。晶體分光的原理是根據布拉格衍射定律2dsinθ=mλ，當波長...

電鍍鍍層膜厚分析儀是X射線聚光系統與X射線源相結合，產生束斑高強度的X射線束。所以可以對以往由于X射線照射強度不足而導致無法得到理想精度的導線架、接插頭、柔性線路板等微小零件及薄膜進行測量。同時，采用了高計數率、高分辨率的半導體檢測器（無需液氮），在測量鍍膜厚度的同時，對于限制的有害元素的分析測量也十分有效。電鍍鍍層膜厚分析儀產品的優勢表現：1.鍍層檢測，至多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性高。2.平臺尺寸：樣品移動距離可大。3.激光定位和自動多點測量功能。4.可檢測固體、粉末...

為了使被測物質產生特征熒光X射線（X光熒光），需要用能量較高的光子源來激發。光子源有X射線、低能量的γ射線以及高能量的加速電子或離子。對于一般的X射線熒光光譜儀，常用的激發方法有如下幾種：一、用放射性同位素源激發源激發是將少量的放射性同位素，如55Fe（鐵）、109Cd（鎘）等物質固封在密封的留有小孔的鉛罐中，連續發射出低能γ射線，經準直后照射到被測物質上產生X熒光。同位素源發出的X射線強度是非常穩定的，但是X射線強度小，能力分布不可調。優點：單色性好、信噪比高、體積小、重量...