X射線熒光鍍層測厚儀標準樣品

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
     

測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。如:
單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST認證證書），美國標樣！

公司專業從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。 公司的發展得到了中國各級政府的大力支持與幫助，產品具有國際*的技術水平，X熒光光譜儀系列產品被認定為“國家重點新產品"和“江蘇省高新技術產品"。產品品種齊全，為環境保護與安全、工業測試與分析及其它領域提供專業解決方案。 不斷探究世界分析領域的。為客戶提供更加*產品和更加滿意的服務，同時為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等眾多行業提供更為完善的行業整體解決方案，從而推動中國經濟快速全球化。