XTU-50B X射線熒光譜儀

XTU-50B X射線熒光譜儀是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。

應(yīng)用領(lǐng)域

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽離子檢測

XTU-50B X射線熒光譜儀性能優(yōu)勢：

下照式設(shè)計：可以快速方便地定位對焦樣品。

無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm.

微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

高效率的接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。

精密微型滑軌：快速定位樣品。

EFP*算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

項       目 參        數(shù)
測量元素范圍 Cl（17）-U（92）
涂鍍層分析范圍 各種元素及有機物
分析軟件 EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析
軟件操作 人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤
X射線裝置 W靶微聚焦加強型射線管
準直器 ? 0.05 mm  ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；準直器任意選擇一種
近測距光斑擴散度 10%
測量距離 具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察 1/2.5彩色CCD，變焦功能
對焦方式 高敏感鏡頭，手動對焦
放大倍數(shù) 光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍
樣品臺尺寸 500mm*360mm
移動方式 高精密XY手動滑軌
可移動范圍 50mm*50mm
隨機標準片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件 聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱